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Size and density control of silicon quantum dots in SiC dielectric matrix
  • 所属机构名称：西安交通大学
  • 会议名称：3rd IEEE International NanoElectronics Conference (INEC2010)
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：纳米晶复合超硬薄膜极限硬度的微量氧损伤行为及其机制研究
作者： 马大衍|马飞|马奔|畅庚榕|徐可为|
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