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Two-Dimensional Model and Simulation of Enhanced Sensitivity PIN Photodiode Detector for 3D Imager
  • 所属机构名称：湘潭大学
  • 会议名称：International Conference on Measuring Technology and Mechatronics Automation (IEEE ICMTMA2010)
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：微弱信号检测的耦合混沌电路设计及混合集成
作者： 金湘亮|曾以成|
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