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Image enhancement based on intrascale dependencies of the second generation curvelet transform
所属机构名称:西安电子科技大学
会议名称:Proc. of SPIE 2009, Vol. 7498
成果类型:会议
相关项目:自适应Bandelet图像奇异性检测
作者:
H. Hao|F. Liu|L. Jiao|
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