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The residual T2 control chart of the multivariate heteroskedasticity process with trend patterns
  • 所属机构名称:天津大学
  • 会议名称:2010 2nd IEEE International Conference on Advanced Management Science, ICAMS 2010
  • 时间:2010.7.7
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:复杂产品制造过程质量控制与诊断的理论及方法研究
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