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Euclidean distance algorithm for defect recognition in infrared thermographic nondestructive testing
所属机构名称:北京航空航天大学
会议名称:Thermosense XXXI
成果类型:会议
会场:Orlando FL USA
相关项目:飞行器板壳结构红外热波无损检测基础理论和关键技术的研究
作者:
郭兴旺, 其达拉图|
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