位置:成果数据库 > 会议 > 会议详情页
Metrology of deep trench structures with polarized FTIR reflectance spectrum
  • 所属机构名称:湖北工业大学
  • 会议名称:4th IEEE International Conference on Nano/Micro Engineered and Molecular Systems, NEMS 2009
  • 成果类型:会议
  • 会场:Shenzhen, China
  • 相关项目:面向三维集成器件封装的无焊料高密度通孔垂直互连技术研究
同会议论文项目
同项目会议论文