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Modeling analysis of negative effects of high frequency electrical stimulation on axonal behaviors
  • 所属机构名称：大连理工大学
  • 会议名称：2013 35th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, E
  • 时间：2013
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：高频阻断电流对神经的损伤及其离子机制
作者： Sun, Lifei|Liu, Hailong|
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高频阻断电流对神经的损伤及其离子机制
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Effects of high frequency electrical stimulation on nerve's conduction of action potentials
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