位置:成果数据库 > 会议 > 会议详情页
Point spread function modeling method for X-ray flat panel detector imaging
  • 所属机构名称:西北工业大学
  • 会议名称:6th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies
  • 时间:2012.4.26
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:空心涡轮叶片精铸型面-壁厚漂移的层析跟踪检测方法研究
同会议论文项目
同项目会议论文