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Beyond Mahalanos Metric: Cayley-Klein Metric Learning
  • 所属机构名称:中国科学院自动化研究所
  • 会议名称:IEEE International Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR)
  • 时间:2015
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:基于机器学习的局部图像特征描述与融合机制研究
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