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Electronic speckle pattern interferometry for fracture expansion in nuclear graphite based on PDE im
  • 所属机构名称:天津大学
  • 会议名称:Conference on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IX
  • 时间:2015
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:动态电子散斑干涉相位提取的高性能方法研究及应用
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