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Layer-by-layer photoluminescence and photoreflectance analysis of impurity distribution in HgCdTe
  • 所属机构名称：中国科学院上海技术物理研究所
  • 会议名称：35th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves, IRMMW-THz 2010
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：变条件集成红外调制光致发光谱实验系统
作者： Lue, Xiang|Shao, Jun|Wei, Yanfeng|Yang, Jianrong|
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