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High-speed phase shifting profilometry with dual-frequency digital projection grating pattern - art.
  • 所属机构名称:华中科技大学
  • 会议名称:27th International Congress on High-Speed Photography and Photonics
  • 成果类型:会议
  • 会场:Xian, PEOPLES R CHINA
  • 相关项目:运动物体表面三维形变及缺陷的检测方法研究
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