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High-order small perturbation method for scattering from layered structure with multilayer rough int
  • 所属机构名称:中国科学院电子学研究所
  • 会议名称:2014 IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium
  • 时间:2014.7
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:基于VHF/UHF双频地基雷达的土壤与植被参数建模与测试方法研究
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