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EBG结构的串扰耦合分析
  • 所属机构名称:西安电子科技大学
  • 会议名称:2009年全国天线年会论文集,pp. 875~878,中国成都,2009.10
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:高速高密度互连封装的电源完整性与可靠性分析
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