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准周期多层平板介质栅色散特性的数值分析
  • 所属机构名称:中国科学技术大学
  • 会议名称:中国电子学会1997年微波年会
  • 作者或编辑:3448
  • 语言:中文
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:半导体霍耳效应测量的无接触微波方法
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