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缓冲层厚度对In0.82Ga0.18As材料
  • 所属机构名称：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 会议名称：第十届全国固体薄膜学术会议 2006年 苏州
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：非致冷InAsSb中红外探测器材料的研究
作者： 张铁民, 缪国庆, 金亿鑫, 谢建春
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