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Automated thickness measurements of nacre from optical coherence tomography using polar transform an
  • 所属机构名称：清华大学
  • 会议名称：the 18th international symposium on Intelligent Signal Processing and Communications Systems
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：光学相干层析图像分类与层次结构检测方法及应用研究
作者： Yankui Sun|Ming Lei|
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光学相干层析图像分类与层次结构检测方法及应用研究
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