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Insight into the Field-Induced Surface Deformation of Si Nanoapex and the Achieving of Highly Reliab
  • 所属机构名称：中山大学
  • 会议名称：27th international conference of vacuum nanoelectronic
  • 时间：2014.7.6
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：真空纳米电子学
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