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Failure Analysis of Gate-All-Around Nanowire Field Effect Transistor underl TLP Test
  • 所属机构名称：北京大学
  • 会议名称：2014 IEEE International Conference on Electron Devices and Solid State Circuits
  • 时间：2015.6.1
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：纳米线晶体管器件静电保护相关研究
作者： Aihua Dong|Nie Liu|Rui Tian|Xuejiao Yang|Zhiwei Liu|Kohui Lee|Horng-Chih Lin|Juin J. Liou|Wang Yuxin|
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