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Error analysis of strain measurement induced by operating temperature of uncooled CCD
  • 所属机构名称：清华大学
  • 会议名称：Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications
  • 时间：2010.11.11
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：基于边界型无网格法的核石墨微观结构仿真方法研究及其在热膨胀系数应力敏感性分析中的应用
作者： Pang, Jiazhi|Ma, Qinwei|Ma, Shaopeng|Wang, Hongtao|
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