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RESEARCH ON SINGLE EVENT EFFECTS IN SEMICONDUCTOR DEVICE AT HIRFL: SIMULATION EXPERIMENT.
  • 所属机构名称：中国科学院近代物理研究所
  • 会议名称：The 5th International Symposium on Swift Heavy Ions in Matter May 22-25,2002 Giardini Naxos, Taormin
  • 语言：英文
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：高能重离子的电子能损所引起的潜径迹研究
作者： M.D.Hou|J.Liu|Q.X.Zhang|et al|
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