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A Comparasion analysis of Single-Ended Bit-line Leakage Reduction Techniques at 40nm Node
  • 所属机构名称：中国人民解放军国防科学技术大学
  • 会议名称：ICEE2012
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：纳米级动态电路自动验证方法研究
作者： Liang Wen|Zhentao Li|Yong Li|
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纳米级动态电路自动验证方法研究
期刊论文 18 会议论文 13 获奖 1 专利 5
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