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Dielectric recovery behaviors after low current interruption measured by submicrosecond voltage impu
  • 所属机构名称：西安交通大学
  • 会议名称：24th International Symposium on Discharges and Electrical Insulation in Vacuum, ISDEIV 2010
  • 成果类型：会议
  • 会场：Braunschweig, Germany
  • 相关项目：更高电压等级真空灭弧室触头间长真空间隙绝缘特性研究
作者： Yan, Peng|Wang, Zhenxing|Liu, Zhiyuan|Geng, Yingsan|
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