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On predicting residual stress and chip morphology in pre-strain hard turning
所属机构名称：上海交通大学
会议名称：2010 ASME International Conference on Manufacturin
成果类型：会议
会场：Erie
相关项目：淬硬零件滚动接触界面性能衰退机理的工艺控制方法研究
作者：
C.Richard Liu|张雪萍|王和平|吴申峰|
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