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改进型平面干涉仪在光学元件表面检测中的应用
  • 所属机构名称：上海交通大学
  • 会议名称：第十三届全国实验力学学术会议
  • 时间：2012.7.7
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：残余应力沿深度分布测试仪的研制
作者： 陆鹏|
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