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Combine hierarchical appearance statistics for accurate palmprint recognition
  • 所属机构名称:中国科学院自动化研究所
  • 会议名称:the 2008 IEEE International Conference on Pattern Recognition (ICPR2008)
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:基于定序测量的物体识别理论和方法
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