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Bit Cell Arrangement and Reduction of Switching Field Sensitivity to Manufacturing Tolerances of Bit
  • 所属机构名称:华中科技大学
  • 会议名称:The 2011 International Magnetics Conference (INTERMAG 2011)
  • 成果类型:会议
  • 会场:台湾
  • 相关项目:超低飞高条件下硬盘磁头的运行姿态建模与测量方法
作者: Shu Xu|
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