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A System Characteristic Parameters Identification Method by Wavelet Transform Image Ridge
  • 所属机构名称:天津大学
  • 会议名称:2010 International Conference on Functional Manufacturing Technologies
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:基于在机监测与智能维护的复杂制造系统状态辨识与精度测控理论与方法
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