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Thenear wall TIRFM measurement of nano-tracer’s statistical intensity distribution(SID) and determin
  • 所属机构名称：中国科学院力学研究所
  • 会议名称：2015 68th APS DFD annual meeting
  • 时间：2015.11.25
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：基于AFM胶体探针技术的表面电荷测量与调制研究
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