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The influence of electron trap capture cross section on carrier in semiconductor
  • 所属机构名称：河北大学
  • 会议名称：The fifth international conference on applied electrostatics’ 2004 ,Shanghai,China
  • 作者或编辑：3448
  • 第一作者单位：College of Physics Science and Technology,(河北大学物理科学与技术学院)
  • 语言：英文
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：卤化银感光材料光谱增感机理研究
作者： Liu Rong-jua n（刘荣鹃）|Dai Xiu-hong（代秀红）|Fu Guang-sheng（傅广生）|Li Xiao-wei(李晓苇)|Yang Shao-peng(杨少鹏)|Zhang Rong-xiang（张荣香）||
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