位置：成果数据库 > 会议 > 会议详情页
Power Voltage Scaling dependence of Single Event Transient Propagation in 90nm
  • 所属机构名称：中国人民解放军国防科学技术大学
  • 会议名称：IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC'2012)
  • 时间：2012.7.7
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：纳米级集成电路SET软错误率分析技术研究
作者： Qin Junrui|Chen Shuming|Liu Biwei|He Yibai|Liang|
同会议论文项目
纳米级集成电路SET软错误率分析技术研究
期刊论文 32 会议论文 3 专利 12
同项目会议论文
Novel Layout Techniques for N-hit Single-Event Transient Mitigation via the Source-Extension
Impact of Circuit Placement on Single Event Transients in 65nm Bulk CMOS Technology