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Point defects in the silicon nanowire
  • 所属机构名称：东华大学
  • 会议名称：8th International Conference on Thin Film Physics and Applications (TFPA)
  • 时间：2014.2.1
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：硅纳米线掺杂的结构调控和电子学性质的理论研究
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