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A Low Cost Self-Hold Analog Test Wrapper Design for Mixed-Signal SOCs
  • 所属机构名称：清华大学
  • 会议名称：The 10th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (Digest of Papers)
  • 成果类型：会议
  • 会场：Hong Kong
  • 相关项目：非线性模拟电路软故障诊断字典法的研究
作者： Yang Jin|Hong Wang|Shiyuan Yang|
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