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Resolution enhancement and autofocusing in digital holographic microscopy by using structured illumi
  • 所属机构名称:中国科学院西安光学精密机械研究所
  • 会议名称:Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VIII
  • 时间:2013.5.13
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:可实时测量的双波长数字全息显微研究
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