位置：成果数据库 > 会议 > 会议详情页
基于XRD的化学沉积Ni-P/SiC薄膜
  • 所属机构名称：江苏大学
  • 会议名称：国内,口头报告,北京科技大学材料科学与工程全国博士论坛,200610,北京
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：界面结合强度激光划痕测量基础研究
作者： 孔德军, 张永康, 鲁金忠, 冯爱新
同会议论文项目
界面结合强度激光划痕测量基础研究
期刊论文 33 会议论文 17
同项目会议论文
Study on the Testing Technolog
Study of Interfacial Bonding S
界面结合状况检测诊析技术
基于激光热效应的涂层界面结合强
Measurement on Interfacial Bon
Nondestructive Measurement of
Theoretical Analysis of Stress
Study on the bonding state dia
Experiment Research of Measuri
激光划痕法测定薄膜界面结合强度
Study on the temperature and s
Experimental research of measu
Study on Interface Bonding Str
Study on interfacial adhesion
Study on the Residual Stress S
基于XRD的涂层界面结合强度的实