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Subaperture stitching as an alternative to full aperture interferometric testing of difficult-to-tes
  • 所属机构名称：中国人民解放军国防科学技术大学
  • 会议名称：3rd International Conference of Asian Society for Precision Engineering and Nanotechnology (ASPEN)
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：光学镜面高精度高分辨率干涉测量方法与关键技术研究
作者： Yifan Dai|Shengyi Li|Shanyong Chen|
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光学镜面高精度高分辨率干涉测量方法与关键技术研究
期刊论文 9 会议论文 3 专利 3
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