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Electron Microscopy of Nanoscale Devices: In Situ and Ex Situ Characterization of Structure and Tran
  • 所属机构名称：北京大学
  • 会议名称：M&M2008
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：纳米级和原子级材料及应用的基础研究
作者： T. Kim|J. M. Zuo|Q. Chen|L. M. Peng|E. A. Olson|
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