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充电参数对PTFE多孔膜电荷稳定性的影响
  • 所属机构名称：同济大学
  • 会议名称：仪器仪表学报
  • 语言：中文
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：多孔聚四氟乙烯膜储电性及压电性的研究
作者： 吴越华|夏钟福|王飞鹏|邱勋林|
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多孔聚四氟乙烯膜储电性及压电性的研究
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