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Monte Carlo Simulation of Scanning Electron Microscopy Images and Surface Excitation at Rough Surfac
所属机构名称:中国科学技术大学
会议名称:IUVSTA Workshop for Surface Analysis and Standardization 2013
时间:2013.1.1
成果类型:会议
相关项目:金属和半导体纳米结构表面定量分析方法研究
作者:
Z.J. Ding|P. Zhang|B. Da|Z. Ruan|S.F. Mao|
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