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A Simple Method for Multichip IGBT Modules Failure Prognostics Using Deviation of Gate Current after
  • 所属机构名称：重庆大学
  • 会议名称：第五届中国高校电力电子与电力传动学术年会
  • 时间：2011.4.4
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：风力发电中电力电子变流装置可靠性概率评估模型及寿命在线预测的研究
作者： Luowei Zhou|Shengqi Zhou|
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