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Dry Etching of Fused Silica Glass in C4F8/Ar Inductively Coupled Plasmas for Through Glass Via (TGV)
  • 所属机构名称:中国科学院微电子研究所
  • 会议名称:15th International Conference on Electronic Packaging Technology (ICEPT)
  • 时间:2014.8.12
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:面向高密度三维集成的玻璃等离子体深刻蚀技术研究
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