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P 型 AlxGa1-xN(0<x<0.31) 薄膜光学性质研究
  • 所属机构名称：南京大学
  • 会议名称：第十六届全国半导体物理学术会议
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：新型快速响应RCE紫外探测器的基础研究
作者： 刘斌，张荣，谢自力，张曾，李亮，刘启佳，赵红，修向前，陈鹏，陆海，顾书林，江若琏，韩平，施毅，|
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