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Surface-cleanliness inspection apparatus for optical component based on machine vision
  • 所属机构名称：重庆大学
  • 会议名称：2010 3rd International Congress on Image and Signal Processing, CISP 2010
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：光学元件缺陷模型宏观描述方法研究
作者： Hongyu Chu|Zhijiang Xie|Qin Liu|Yanhua Shao|Zengzhen Mi.|
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