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过渡族金属硅化物与硅基底之间纳米接触的电输运特性的扫描隧道显微镜研究
  • 所属机构名称：上海交通大学
  • 会议名称：2015全国表面分析科学与技术应用学术会议
  • 时间：2015.5.14
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：铁磁性MnSi有序超薄膜在Si基底上的外延生长及其掺杂特性研究
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