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“Studies on cross-over and broadside-coupled microstrip lines for band-stop application”
  • 所属机构名称:东南大学
  • 会议名称:2003 IEEE AP-S Digest
  • 语言:英文
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:光子带隙结构的特性和应用研究
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