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L1 minimization based image reconstruction for electrical capacitance tomography
所属机构名称:清华大学
会议名称:4th international workshop on process tomography
成果类型:会议
相关项目:电容成像新型传感器及测量策略关键技术研究
作者:
Yunjie Yang|Jiamin Ye|Kuangyi Huang|Lihui Peng|
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