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Peculiarities of Detecting Teflon Defect Surrogates in CFRP by Transient IR Thermography
  • 所属机构名称：北京航空航天大学
  • 会议名称：7th International Conference on Quantitative Infrared Thermography, July 5-8, 2004 – von Karman Inst
  • 作者或编辑：3448
  • 语言：英文
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：大型复合材料板壳红外数字层析检测技术研究
作者： V．Vavilov|郭兴旺|
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