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A straight-line trajectory tomography method based on multiple tilted X-ray cone-beams
  • 所属机构名称：北京航空航天大学
  • 会议名称：2012 International Conference on Measurement, Instrumentation and Automation, ICMIA 2012
  • 时间：2013
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：纳米-微米复合材料同步辐射纳米层析成像及力学性能建模分析方法
作者： Fu, Jian|Zhang, Junwei|Tan, Renbo|
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