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A Novel Multi-Capture Scan Tes
  • 所属机构名称：东南大学
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：基于测试压缩和LBIST的系统芯片低成本测试技术研究
作者： XinningLiu*,Jun Yang,Xiaojing
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期刊论文 30 会议论文 9
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