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Properties of multicrystalline silicon wafers based on UMG material
  • 所属机构名称：浙江大学
  • 会议名称：10th China Semiconductor Technology International Conference 2011, CSTIC 2011
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：太阳电池用铸造多晶硅中晶体缺陷的电学复合性能研究
作者： Jiang, Tingting|Yu, Xuegong|Li, Xiaoqiang|Gu, Xin|Wang, Peng|Yang, Deren|
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